日本microscope布氏測量顯微鏡

產品型號：YB
更新時間：2024-07-12

簡要描述：日本microscope布氏測量顯微鏡YB
用于測量布氏硬度試驗法“壓痕直徑"的顯微鏡。布氏硬度是一種測試方法，通過將硬質合金球的壓頭壓入樣品表面而產生的壓痕尺寸來測量樣品的硬度。
本產品是可隨身攜帶的小型產品，與以往產品相比，刻度上的字符粗，線條長，一目了然，易于測量。此外，我們還應用了一種不會顯示污垢的油漆。除布氏硬度試驗法外，還可用于一般觀察。
此外，我們還準備了一種明亮且長壽命的筆形 LE

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產品詳情

品牌	其他品牌	產地類別	國產
應用領域	環保,化工,能源,電子/電池,綜合

日本microscope布氏測量顯微鏡YB

的介紹

深圳九州工業品有限公司成立于2016年，坐落于年輕奮進的深圳市，是一家工業品綜合服務商。主要包括機電設備、電子產品、儀器儀表、工業器材的銷售及其它國內貿易、經營進出口等業務。聯合國際名品牌搭建工業品供應鏈，采用與 MRO分銷商結盟的方式，把零散采購訂單集中處理，流程簡化，提供一站式供應服務。在美國、德國、日本、韓國、中國臺灣建立采購中心，以流的專業國際采購團隊、技術顧問、銷售團隊為各種領域提供各類高品質的工業產品和優質的整合服務。通過與廠家建立快捷、有效的溝通，和眾多國外生產廠家建立了長久合作伙伴關系。

用于測量布氏硬度試驗法“壓痕直徑"的顯微鏡。布氏硬度是一種測試方法，通過將硬質合金球的壓頭壓入樣品表面而產生的壓痕尺寸來測量樣品的硬度。
本產品是可隨身攜帶的小型產品，與以往產品相比，刻度上的字符粗，線條長，一目了然，易于測量。此外，我們還應用了一種不會顯示污垢的油漆。除布氏硬度試驗法外，還可用于一般觀察。
此外，我們還準備了一種明亮且長壽命的筆形 LED 燈作為另售的可選設備。可以用更明亮和更清晰的視野進行測量。

變更相機卡口，即可支持C 卡口、F 卡口。
可進行多種多樣的觀察（亮視野、偏光、微分干涉觀察）
AF-WM 型耐振動，適合內置于裝置中
?帶觀察筒的型號（IMZ-FB）的C型直筒和觀察筒的光強比為50:50，因此可以同時觀察目鏡和監視器。
?使用輔助物鏡（*），可以在從微觀到宏觀的廣泛范圍內使用。

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