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產品型號：S3500
更新時間：2024-11-06簡要描述：美國microtrac粒徑分析儀S3500 是第一個使用三個精確放置的紅色激光二極管來精確描述顆粒的粒度分析儀，專的利的三激光系統為各種應用提供了精確，可靠和可重復的粒度分析，利用已證明的理論的Mie補償球形粒子和專的利原理的改進的Mie計算非球形粒子。S3500測量的粒度從0.02到2800µm性能指標
| 品牌 | 其他品牌 | 產地類別 | 進口 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 環保,化工,能源,電子/電池,綜合 |
美國microtrac粒徑分析儀S3500
是第一個使用三個精確放置的紅色激光二極管來精確描述顆粒的粒度分析儀，專的利的三激光系統為各種應用提供了精確，可靠和可重復的粒度分析，利用已證明的理論的Mie補償球形粒子和專的利原理的改進的Mie計算非球形粒子。S3500測量的粒度從0.02到2800µm
性能指標
1.三激光，紅色，多探測器，多角度光學系統
2.對非球形粒子采用米氏補償和修正米氏計算的算法
3.測量范圍從0.02到2800µm
4.干濕法測量
5.封閉的光路確保光學元件的完的全保護，很少或沒6.6有操作員干預
優點
1.利用三種紅色激光器，增加了測量范圍，為您提供了對廣泛樣本進行分析的靈活性
2.專的利改進的Mie計算允許用戶精確測量復雜的粒子，而其他粒子分析儀很難準確地描述
3.從濕測量到干測量的無縫過渡減少了停機時間
4.固定探測器堅固耐用，并確保正確的定位
5.設備占地空間小，節省實驗室的寶貴空間
美國microtrac粒徑分析儀S3500
是第一個使用三個精確放置的紅色激光二極管來精確描述顆粒的粒度分析儀，專的利的三激光系統為各種應用提供了精確，可靠和可重復的粒度分析，利用已證明的理論的Mie補償球形粒子和專的利原理的改進的Mie計算非球形粒子。S3500測量的粒度從0.02到2800µm
性能指標
1.三激光，紅色，多探測器，多角度光學系統
2.對非球形粒子采用米氏補償和修正米氏計算的算法
3.測量范圍從0.02到2800µm
4.干濕法測量
5.封閉的光路確保光學元件的完的全保護，很少或沒6.6有操作員干預
優點
1.利用三種紅色激光器，增加了測量范圍，為您提供了對廣泛樣本進行分析的靈活性
2.專的利改進的Mie計算允許用戶精確測量復雜的粒子，而其他粒子分析儀很難準確地描述
3.從濕測量到干測量的無縫過渡減少了停機時間
4.固定探測器堅固耐用，并確保正確的定位
5.設備占地空間小，節省實驗室的寶貴空間
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